형광분광 광도계, 형광분석, 형광분석법, 형광수율

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형광분광 광도계

spectrophotofluorometer

기체·액체 또는 고체시료에 여기광을 조사하여 스펙트럼을 측정하여 정량 및 정성분석을 하는 장치이다. 일반적으로 흡수 스펙트럼으로 분석하는 흡광법에 비하면 100∼1000배 감도가 높다. 통상 여기 및 형광 쪽에 각각 분광기를 가지고 여기·형광스펙트럼의 측정이 가능한 것을 형광분광 광도계라 하여 구별하고 있다. 기체·액체 시료에는 보통 여기광과 복사광의 방향을 직각으로 잡지만 고체 분말시료에는 반사모드로 측정한다. 최근에는 형광계라는 말은 별로 사용하지 않는다.

형광분석

fluorometric analysis

물질에 빛을 조사시키면 물질에서 형광 또는 인광이 복사되는 성질을 이용하여 그 광도 또는 스펙트럼을 정성·정량분석하는 방법. 여기광으로서는 빛(가시광선·자외선)이외에 X선이 이용될 때도 있다. 이 경우, 방사되는 것을 형광 X선으로 되므로 형광 X선 분석이라 한다.

☞ fluorescence, fluorescent radiation, fluorescent X-ray spectrometer.

형광분석법

fluorescent method [fluorometry]

【광물】 미량분석법의 일종. 원시료를 적당한 시약으로 처리한 후 자외선으로 조사시켜 얻은 형광의 강도를 측정함으로써 원시료 중의 미량원소 함유량을 판정하는 방법이다. 우라늄의 경우는 불화나트륨·탄산나트륨·탄산칼륨의 합제를 사용하여 시료를 용해시켜 펠릿을 만들고 3,650Å의 자외선으로 형광을 발생시키는 방법이 보통이다.

형광수율

fluorescence yield

궤도전자 포획이나 γ선의 내부전환 결과 원자의 외각전자에 공석이 생긴다. K각에 공석이 생길 경우, 이것은 L각의 전자에 의해서 메워지며 이 때 K와 L의 전자 속박에너지 차는 특성X선 또는 L각으로부터 외측의 전자(Auger 전자)의 방출에 의해서 소비된다. 이 경우의 X선 방출의 비율을 형광수율이라 한다. 또 Auger 전자 방출 비율을 Auger 수율이라 한다. K각의 형광수율 Y는 원자번호 Z의 함수로서 Y={1 (33.6/Z)3.5}-1로 표시된다. L각의 형광수율은 이것의 몇 분의 1호서 그 L전자의 속박에너지와 같은 K전자 속박에너지를 갖는 저립 원자번호 전자의 K각 형광수율과 거의 같다.